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功率器件测试A400采集卡概述：
A400数据采集卡，是一款普赛斯自主设计开发的插卡式，支持可变速率采样和大容量数据存储的高精度数据采集卡。
采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可达16bits，最高支持2MS/s采样率。单采集卡支持4通道，且通道间隔离。采集卡可应用于我司3插卡或10插卡主机上，单主机最高支持40通道。
产品具有采样速度快，分辨率高，通道互相隔离等特点，因此，可广泛应用于各类型功率半导体功率循环，可靠性测试，以及其他工业场景等数据采集。
产品特点：
插卡式设计，4通道/插卡，最高支持40通道
各通道互相隔离，通道间耐压＞500V
16位A/D分辨率
支持变速率采样，最高可达2MS/s采样率
支持大容量数据存储
采集精度高，多电压量程
软件兼容性广，支持Labview，C/C++等
技术参数：
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项目 |
技术指标 |
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单卡通道数 |
4 |
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通道隔离 |
支持，隔离耐压>500V |
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ADC分辨率 |
16bits |
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最高采样率 |
2MS/s |
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采样频率 |
可配置 |
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单卡存储深度 |
128MB |
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输入信号带宽 |
500KHz |
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输入阻抗 |
1GΩ |
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输入电压量程 |
±0.625V、±1.25V、±2.5V、±5V、±10V、±12V |
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数学运算 |
支持变速率采样 |
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触发方式 |
支持软件触发，外部IO触发 |
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单卡尺寸 |
40 mm * 264 mm * 410 mm（L*H*D） |
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主机箱通信 |
RS-232 / GPIB / LAN |
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主机箱输入电源 |
AC: 100~240V, 50/60HZ，最大功率1000W |
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工作温度 |
0~50℃ |
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储存温度 |
-20~80℃ |
应用领域：
功率半导体功率循环，可靠性测试，以及其他工业场景等数据采集。
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作为国内领先的半导体电性能测试仪表提供商，凭借长期的技术创新、精益的生产制造、严格的质量体系及国际化视野，普赛斯仪表自主研制的国产化数字源表，设备可以作为电压源和或电流源并同步测量电流和或电压，支持四象限工作。公司产品已被国内通信巨头和多家知名半导体企业认可和应用，是为数不多进入国际半导体测试市场供应链体系的半导体电性能测试设备厂商。未来，公司将继续以“为客户提供最优质的产品与最贴心的服务”为宗旨，朝着全球半导体电性能测试仪表的领跑者迈进。
